Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Characterization and Modeling of 22 nm FDSOI Cryogenic RF CMOS'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Characterization and Modeling of 22 nm FDSOI Cryogenic RF CMOS
Wriddhi Chakraborty*, Khandker Akif Aabrar, Jorge Gomez, Rakshith Saligram, Arijit Raychowdhury, Patrick Fay, Suman Datta
*Autor correspondiente de este trabajo
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)